粉體特性測試-卡爾指數法
2023-08-20
卡爾指數法是一種測量粉體流動特性的方法。該方法通過差角、壓縮度、空隙率、噴注性指數等一系列特定參數來表征粉體的流動性。差角越小，粉體的流動性與噴流性越強。壓縮度反映粉體的流動特性，壓縮度越大，粉體的流動性就越差。空隙率則因顆粒形狀、排列結構、粒徑等因素而變化
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電阻率測試儀
2023-08-20
電阻率測試儀具有高精度、高穩定性、高分辨率等優點，可以廣泛應用于各種材料的研究、生產和質量控制等領域。例如，在半導體工業中，電阻率測試儀可以用于檢測半導體材料和器件的電性能，以確保它們符合要求。
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斯科特(史考特)容量計松裝密度測試儀
2023-08-20
斯柯特容量計法是一種測量粉末松裝密度的方法，基于斯柯特容量計測定原理。將粉末放入斯柯特容量計的漏斗中，讓粉末通過一系列的阻尼板和擋板，進入已知體積的圓柱杯中，然后稱量圓柱杯中金屬粉末的質量，用粉末的質量除以圓柱杯的體積，即得到該粉末的松裝密度值。該測試裝置適用于不能自由流過漏斗法中孔徑為5mm的漏斗和用振動漏斗法易改變特性的粉末。
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電壓降測試儀
2023-08-20
電壓降測試儀是一種用于測量電壓降的設備。它可以通過測量不可重接插頭插銷與連接插頭引出線等類似接線口的電壓降，來判斷接線口優劣。該測試儀具有可調的恒電流輸出，微電壓測試和數碼管顯示。測試可設定時間，時間到和電流*高關斷電路測量
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高溫電阻率測試儀
2023-08-20
高溫電阻率測試儀是一種用于測量材料在高溫環境下的電阻率的儀器。該儀器能夠在高溫條件下運行，可以對材料進行高溫測試，以評估其在高溫條件下的電性能。 高溫電阻率測試儀通常采用四探針法進行測量，其基本原理是通過接觸材料表面的四個探針，測量材料在高溫條件下的電阻值，并計算出電阻率。該儀器具有高精度、高穩定性、高分辨率等優點，同時可以控制測試溫度，進行高溫測試。
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導體電阻率測試儀
2023-08-20
導體電阻率測量：測試儀可以測量各種材料的導體電阻率，包括電線電纜、連接器插頭、導體電阻、PCB電路、焊孔電阻、接地電阻等。 測試速度快捷：測試速度可以達到10次/秒，同時保證0.05%的精度，讀數跳動可控制在5個字符以下。 高性能微處理器控制：測試儀由高性能的微處理器進行控制，具有高精度、高穩定性、高分辨率等優點。
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體積電阻率測試儀
2023-08-20
體積電阻率測試儀一般采用電極式測量方法，即通過兩個電極接觸材料表面，測量電極之間的電阻值，進而計算出材料的體積電阻率。 通常體積電阻率越高，材料用做電絕緣部件的效能就越高。通常所說的電阻率即為體積電阻率。 體積電阻率測量：測試儀可以測量各種材料的體積電阻率，包括絕緣材料、抗燃油、變壓器油等 三環電極是體積電阻測試儀的一種電極類型
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表面電阻率測試儀
2023-08-20
表面電阻率測試儀是一種用于測量物體表面電阻值的儀器。它通過測試物體表面電阻，可以評估物體的導電性能，對于微電子、醫藥、航空航天、精密機械等領域具有重要意義。 表面電阻率測試儀一般采用電極式測量方法，即通過兩個電極接觸物體表面，測量電極之間的電阻值，進而計算出物體的表面電阻率。
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方塊電阻測試儀
2023-08-20
方塊電阻測試儀是一種用于測量半導體材料的方塊電阻的儀器。它采用四探針法，通過接觸材料表面的四個探針來測量其方塊電阻值。 方塊電阻測試儀的功能包括： 電阻率測量：通過四探針法，測量半導體材料或薄膜的電阻率。 薄層電阻測量：對于薄層材料或薄膜，該設備可以測量其薄層電阻。 方塊電阻測量：可以測量半導體材料和薄膜的方塊電阻。
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四探針電阻率測試儀
2023-08-20
四探針電阻率測試儀是一種用于測量材料電阻率的儀器，采用四探針法進行測量。四探針法是一種電學測量方法，通過接觸材料表面的四個探針來測量其電阻值，并根據材料的具體形狀和尺寸計算出電阻率。
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